我們的測(cè)試旨在測(cè)試該產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)的一個(gè)性能表現(xiàn)。很多測(cè)試模型會(huì)標(biāo)識(shí)測(cè)試項(xiàng)的峰值和平均值。這些平均值給了一個(gè)基本的性能指標(biāo)(只是這個(gè)指標(biāo)不能特別精確的描述SSD的性能)。

當(dāng)產(chǎn)品負(fù)載較低時(shí)，所有存儲(chǔ)方案的性能表現(xiàn)也各有不同，平均值結(jié)果也不能很好的描述SSD在實(shí)際應(yīng)用中能夠達(dá)到的性能(因?yàn)楫a(chǎn)品始終能夠及時(shí)的響應(yīng)IO 請(qǐng)求，所以性能指標(biāo)不會(huì)有太多波動(dòng))，所以控制負(fù)載量非常重要，當(dāng)負(fù)載過(guò)高時(shí)，則會(huì)造成大量應(yīng)用被掛起。而應(yīng)用負(fù)載的高低可以區(qū)分該應(yīng)用是否屬于企業(yè)級(jí)。

測(cè)試將提供正在進(jìn)行的測(cè)試數(shù)據(jù)(時(shí)間間隔為1秒)并通過(guò)圖形的方式展現(xiàn)測(cè)試結(jié)果。散點(diǎn)表格可以幫助讀者理解IO延遲水平(單純的數(shù)據(jù)表很難做到這點(diǎn))。除了延遲，測(cè)試結(jié)果還會(huì)包括IOPS和帶寬等。

本測(cè)試符合SNIA 的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試環(huán)境為基于主流應(yīng)用環(huán)境的多線程負(fù)載。我們測(cè)試了1.2TB Memblaze PBlaze3L(可用空間為80%，高性能模式)，并選用了全盤編址的方法。一塊參與測(cè)試的還有1.6TB的英特爾DC P3700和1.4TB的美光P420m以及2.2TB的HGST FlashMAX II。