西門子推出 Tessent In-System Test，在硅片全生命周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的確定性測(cè)試
西門子數(shù)字化工業(yè)軟件日前推出 Tessent In-System Test 軟件，作為一款突破性的可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 解決方案，旨在增強(qiáng)下一代集成電路 (IC) 的系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試能力。 Tessent In-System Test 專為解...
謝 世誠(chéng)業(yè)界動(dòng)態(tài)