“如今，DRAM技術(shù)的發(fā)展面臨很多和CPU相同的挑戰(zhàn)，包括多重圖形化、鄰近效應(yīng)和存儲節(jié)點泄漏等。DRAM的開發(fā)需要精確的建模才能預(yù)測前述問題的影響并做相應(yīng)的優(yōu)化來避免良率受損。舉例來說，在確定位線 (BL) 到有源區(qū) (AA) 接觸面積時就...

謝 世誠2021-10-13業(yè)界動態(tài)