演講的內容主要講解了隨著數據快速增長和硬盤的規(guī)模日益擴大，大量資料的橫向擴展存儲技術，云存儲解決方案的有潛在數據損壞，不可用和數據丟失的問題的風險。因此，基本的RAID 5和6可能不足以滿足所有數據保護可能需要的目標。本次會議提出了一個潛在的數據丟失和錯誤的概率，可用于評估的RAID數據耐久性模型。此外，會針對新一代的數據保護機制Erasure Coding（EC）做一個介紹。本次會議的主題包括：硬盤耐用性的介紹極其重要性、測量耐用性：平均數據丟失時間（MTTDL）和其它模型、耐用性改善技術、大型存儲參考架構。

演講中提出了一個潛在的數據丟失和錯誤的概率，可以看到硬盤不可恢復錯誤概率接近100%，而鏡像和奇偶校驗RAID的中間時間正在變得難以控制，另外一方面IDC存儲容量增長相當明顯，這就更加體現了硬盤耐用性的重要。

在講到數據耐用性時詳細講述了如何通過測量了平均數據丟失時間以及相關的參數來進行測量數據耐用性，并根據常見磁盤陣列進行了比較以及可用于評估的RAID數據耐久性模型。

此外，演講中談到了耐用性改善技術，講解了新一代的數據保護機制 – 擦除編碼（EC）。

在大型對象存儲機架，一個42U機架中大約有1PB原始存儲通過擦除編碼，實現高效率、耐用性和可擴展性。而未來得數據中心將在傳統(tǒng)的低延遲、優(yōu)質存儲系統(tǒng)上添加低成本、高容量存儲。

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